A Mettler-Toledo International, Inc-, líder global em tecnologia de inspeção de produtos, expandiu seu portfólio com os novos sistemas combinados CM (controle de peso e detecção de metais) e CX (controle de peso e raios-X). Essas soluções integram os Detectores de Metais M30 Série R e os Sistemas de Raios X Série X2 com Controladores de Peso Série C, oferecendo flexibilidade máxima para atender a diferentes necessidades de embalagem, aplicação e orçamento.
Soluções 2 em 1
Os novos sistemas combinados gerenciam Pontos Críticos de Controle (CCPs) ao combinar pesagem precisa com detecção de contaminação. Com design compacto e custo total de propriedade reduzido, as soluções oferecem maior sensibilidade de detecção e uma operação simplificada.
CM: Controle de Peso e Detecção de Metais
O Sistema CM integra Controladores de Peso Série C com Detectores de Metais M30 Série R, oferecendo precisão e conformidade regulatória, além de detecção eficiente de contaminantes como metais ferrosos e não ferrosos. Com a tecnologia FlashCell™, há maior produtividade e precisão.
CX: Controle de Peso e Raios X
O Sistema CX combina Controladores de Peso com Sistemas de Raios X Série X2, detectando uma ampla variedade de contaminantes, como metais, vidro e plástico. A tecnologia ContamPlus™ e o detector HiGain proporcionam uma detecção precisa e controle de qualidade superior.
Principais Benefícios:
Flexibilidade de Configuração: Combinação personalizada de tecnologias de detecção e pesagem.
Eficiência Operacional: Interface intuitiva para trocas rápidas e operação simplificada.
Design Compacto: Economia de espaço e facilidade de manutenção.
Redução de Custo Total: Solução integrada de fornecedor único.
Pronto para Indústria 4.0: Integração com o software ProdX™ para monitoramento em tempo real e conformidade regulatória.
Jörn Migge, Diretor de Gerenciamento de Produtos, destaca: “Esses novos sistemas oferecem flexibilidade, eficiência e significativa economia de custos, garantindo máxima proteção e qualidade.”
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